Nuestros sistemas de infrarrojo cercano (NIR), que operan a longitudes de onda de 850 nm y 940 nm, proporcionan potentes herramientas para la producción y el control de calidad de muestras no transparentes a las longitudes de onda de la luz visible, como las resinas especiales y el chacolgenide utilizados, por ejemplo, en los sistemas LIDAR y de reconocimiento facial. Los objetos opacos a la luz aparecerán negros a las cámaras de espectro visible "normales", pero son transparentes a otras longitudes de onda de la luz y pueden revelar mucha información sobre su composición y la tensión residual inducida durante su fabricación. Estos nuevos sistemas que operan en el rango del infrarrojo cercano permiten medir objetos que antes eran imposibles de evaluar.
APLICACIONES
Medición de tensiones residuales en materiales opacos al espectro de luz visible.
SISTEMAS DE MEDICIÓN DE BIRREFRINGENCIA BIDIMENSIONAL
Nuestros sistemas de medición de birrefringencia de amplio alcance de la serie PA/WPA proporcionan una medición de birrefringencia de alta velocidad de materiales transparentes y semitransparentes, como lentes y otros componentes transparentes, para la evaluación de la tensión residual, o películas transparentes para la evaluación de la uniformidad de fase.
El campo de visión, que va de lo microscópico a lo macroscópico (～50cm), puede adaptarse a prácticamente cualquier FOV de medición. Independientemente de su tema, creemos que tenemos un sistema para cada tamaño.
El software específico suministrado ofrece opciones como el cambio del tamaño del campo de visión y el aumento del rango de medición para las muestras de alta retardación. Se proporcionan varios filtros, como la reducción de ruido o la mejora de la variación local, etc., para ayudar a sus tareas de análisis de datos, además de que se pueden configurar y aplicar múltiples filtros simultáneamente. También se dispone de funciones de análisis por software para ampliar la funcionalidad del sistema PA/WPA y satisfacer sus necesidades más exigentes de obtención de imágenes de polarización.
APLICACIONES
Medición del retardo y la orientación andle en:
Vidrio
PC y PMMA
PVA, CO, TAC y PET
Así como otros materiales transparentes o semitransparentes |
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